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安科瑞电气测试中心 照明设备测试方案


    随着科学技术的不断发展，特别是进入20世纪90年代以来，信息控制技术和微电子元件或组件在照明设备中的应用日益广泛，照明设备中注入新的功能，从原先的单一照明功能发展到多功能控制、调节、保护、信息传递等。在日趋复杂的电磁环境下，照明设备受静电放电、射频/工频电磁场、浪涌、电快速瞬变脉冲群、电压波动等电磁骚扰的影响越来越明显，甚至出现照明设备信息传递错误、动作错误、工作异常等现象。--安科瑞电气测试中心 照明设备测试方案

    为了使照明设备在越来越严酷的电磁环境中正常工作，安科瑞电气测试中心参照国家标准/行业规范，针对LED模块用直流或交流电子控制装置照明设备制定了以下测试方案：--安科瑞电气测试中心 照明设备测试方案

注：

1.电快速瞬变脉冲群试验：
a) 1级适用于信号/控制端口/、直流电源输入/输出端口;
b)2级适用于交流电源输入/输出端口;
2.浪涌抗扰度试验：
a)1级适用于相线中≤25W的灯具及独立式附件;
b)2级适用与相线/地线中≤25W的灯具及独立式附件、相线中>25W的灯具及独立式附件;
c)3级适用于相线/地线中>25W的灯具及独立式附件。


作者简介：

师晴晴（1985－），女，汉族，本科，工程师，主要研究方向为智能建筑供配电监控系统

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